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更新时间：2020-08-05 
浏览次数：326植物冠层图像分析仪(FT-GC20)用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠层结构参数的冠层空隙分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。
植物冠层是植物生理研究中的一个重要的参数信息，人们常用它来反映植物叶面数量、植物群落生命活力及其环境效应，为植物冠层表面物质和能量交换的描述提供结构化的定量信息。此外，它还是衡量作物生长状况的重要指标，因此研究植物冠层相关参数对于作物的管理调控和估产都具有重要意义。而植物冠层分析仪就是专门为冠层测量分析研发的，利用的是光谱信息检测基本原理，所以还有人将它叫做冠层多谱辐射计。
植株冠层孔隙率有两种定义方法，即面积孔隙率和体积孔隙率。面积孔隙率是指单位面积所含孔隙的面积的百分比，体积孔隙率是指单位体积所含孔隙的体积百分比，具体应根据检测技术的不同而有所差异。通常指的孔隙率为体积孔隙率。经过仪器的测定分析发现，太阳的位置和强度变化会对植物冠层产生影响，会导致植物冠层内高度可变和动态的光模式，并通过光合作用响应光强度变化的复杂方式影响生产力。当前用于表征光动力学的方法(如光线追踪)能够产生具有优异时空分辨率的数据，但计算较为密集且所得数据十分复杂、高维。因此，需要开发更经济的模型来总结数据并在一天中模拟真实的光模式。
FT-GC20植物冠层图像分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中省力、省时、快捷方便的方法。
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